水溶液中の金属錯体の電子状態と配位構造を解明する新手法を開発 －軟X線吸収分光計測による配位子側からの詳細な解析を実現－

自然科学研究機構 分子科学研究所／総合研究大学院大学の長坂将成助教、理化学研究所計算科学研究センター（量子系分子科学研究チーム）の水流翔太特別研究員、名古屋大学物質科学国際研究センター／大学院理学研究科の山田泰之准教授の研究グループは、水溶液中のポルフィリン金属錯体の軟X線吸収分光計測から、その金属―配位子間の非局在化を中心金属と配位子を分離した電子状態解析により明らかにしました。
更に、窒素K吸収端XAS計測と内殻励起計算により、水溶液中のCoPPIXの配位構造を調べて、CoPPIXが水溶液中でも5配位を維持することを見出しました。

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